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四點(diǎn)探針臺(tái)
Everbeing 的四點(diǎn)探針使用四個(gè)接觸的共線探針來(lái)確定晶圓或薄膜的薄層電阻。該方法使用四端感測(cè)或“開爾文”方法，通過(guò)使用單獨(dú)的電壓和電流結(jié)而不是通過(guò)相同的連接。
四點(diǎn)探針臺(tái)KSR-4
KSR-4
奕葉探針臺(tái)(EVERBEING)四點(diǎn)探針臺(tái)適用于表面電阻率測(cè)試、薄膜切片電阻率測(cè)試、半導(dǎo)體摻雜特性的測(cè)試、金屬層厚度的測(cè)試、測(cè)試半導(dǎo)體類型：P型 N型、電壓 電流的測(cè)試。
【廠家】 臺(tái)灣弈葉
【產(chǎn)品分類】 測(cè)試與儀器 - 探針臺(tái) - 四點(diǎn)探針臺(tái)
四點(diǎn)探針臺(tái)SR-4
SR-4
臺(tái)灣奕葉(EVERBEING)四點(diǎn)探針臺(tái)表面電阻率測(cè)試、薄膜切片電阻率測(cè)試、半導(dǎo)體摻雜特性的測(cè)試、金屬層厚度的測(cè)試、測(cè)試半導(dǎo)體類型：P型 N型、電壓 電流的測(cè)試
【廠家】 臺(tái)灣弈葉
【產(chǎn)品分類】 測(cè)試與儀器 - 探針臺(tái) - 四點(diǎn)探針臺(tái)
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