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近場掃描測量設備
在設計的早期階段使用 EMC 掃描儀,您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。
30MHz-3GHz掃描探頭
RFS set
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RFS掃描探頭組包含三個無源近場探頭,用于在研發階段掃描測量電場和磁場,頻率范圍為30MHz到3GHz。該探頭組的探頭可以實現緊貼電子模塊測量,從而定位干擾信號源。它們記錄受測物的近電場和近磁場的整個圖形。該掃描探頭組具備外片電流衰減和電屏蔽。掃描探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內部沒有50Ω的終端阻抗。掃描探頭的測量信號可以通過PA 203或PA 303型前置放大器放大。根據需求生產RFS,LFS,SXS 和XFS型掃描探頭。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
30 MHz-6 GHz磁場掃描儀探頭
XFS-R 3-1
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XFS-R 3-1 磁場掃描儀探頭適用于靠近具有高磁場強度的組件的測量。 它有一個電流衰減護套,因此是電屏蔽的。 它可以連接到頻譜分析儀或具有 50 Ω 輸入的示波器。 磁場探頭有一個內部終端電阻。
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30 MHz - 6 GHz無源近場探頭
XFS-B 3-1
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XFS-B 3-1 是一種無源近場探頭,可檢測從被測物體發出的 90° 磁場線。 不會檢測到橫向進入探頭的磁場線;與 XFS-R 3-1 磁場掃描儀探頭相比,其線圈以 90° 角定位在探頭尖端中;近場探頭小巧輕便。 因其有一個電流衰減護套,且是電屏蔽,可以連接到頻譜分析儀或具有 50 Ω 輸入的示波器。 磁場探頭有一個內部終端電阻。
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