首頁 熱門產品 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環境試驗裝置 市場資訊 服務 技術資源 合作品牌 咨詢熱線: 021-51001982 搜索下列指定分類 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環境試驗裝置 首頁 測試與儀器 電磁兼容測試 近場掃描測量設備 近場掃描測量設備 在設計的早期階段使用 EMC 掃描儀,您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。 30 MHz -3 GHz無源近場探頭 RFS-R 3-2 點擊詳情 RFS-R 3-2 是一種無源近場探頭。 H 場探頭設計用于非常靠近組件和發生高磁場強度的地方。 它有一個電流衰減護套,因此是電屏蔽的。 磁場掃描儀探頭可以連接到頻譜分析儀或具有 50 Ω 輸入的示波器。 H 場探頭沒有 50 Ω 的內部終端電阻。 【廠家】 . 【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備 30 MHz -3 GHz磁場探頭 RFS-B 3-2 點擊詳情 RFS-B 3-2型磁場探頭的測量線圈安置在垂直于探頭柄的位置。如此可以更好地靠近組裝件的探頭,從而獲得高耦合性。 RFS-B 3-2 采集垂直于被測件的磁感線,而不采集在探頭側邊出現的磁感線。 【廠家】 . 【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備 30 MHz - 3 GHz電場探頭 RFS-E 03 點擊詳情 RFS-E 03型探頭底部的電極大小約為 4 x 4 mm。 如此可以定位電纜、IC引腳或更小組件中的電場。 【廠家】 . 【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備 891011 合作品牌 熱線電話 021-51001982 關注我們 收起 郵件訂閱 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環境試驗裝置 提交 數據加載中,請稍后...