
近場掃描測量設備
在設計的早期階段使用 EMC 掃描儀,您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。
光纖探頭
OB 100 set
100KHz-50MHz近場探頭組
LF1 set
LF 1近場探頭組包含4個屏蔽無源近場探頭,用于在研發階段測量電子模塊上長波、中波和短波區的射頻磁場。使用LF 1探頭組的探頭,可以逐步定位集成電路上的干擾放射源。首先使用探頭LF-R 400從遠距離探測模塊的干擾發射情況,接下來再用更高分辨率的探頭LF-B 3、 LF-U 5和LF-U 2.5對干擾源進行更精確的定位。采用這些探頭可以測量單個引腳、較大元件和結構件。
這些近場探頭小巧輕便,并采用外皮電流衰減和電屏蔽設計。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內部沒有50Ω的終端阻抗。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
30MHz-3GHz近場探頭組
RF2 set
RF 2近場探頭組包含4個無源磁場探頭,用于在研發階段測量電子模塊上的磁場,頻率范圍為30MHz到3GHz。使用RF 2探頭組的探頭,可以逐步定位模塊上高頻磁場的干擾發射源。首先用探頭LF-R 400-1和RF-R 50-1從遠距離查找模塊的干擾放射源,然后再用更高分辨率的探頭LF-B 3-2和LF-U 5-2對干擾源進行更精確的定位。
通過相應地操作近場探頭,能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便,并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內部沒有安裝50Ω終端電阻。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
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