首頁 熱門產品 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環境試驗裝置 市場資訊 服務 技術資源 合作品牌 咨詢熱線: 021-51001982 搜索下列指定分類 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環境試驗裝置 首頁 測試與儀器 電磁兼容測試 近場掃描測量設備 近場掃描測量設備 在設計的早期階段使用 EMC 掃描儀,您可以在潛在的輻射和抗擾度問題集成到產品中并且糾正成本高昂的問題之前檢測到它們。 30MHz-3GHz磁場探頭 RF-U 5-2 點擊詳情 RF-U 5-2型磁場探頭特別適于探測寬導線、電纜、連接件、電子元器件及其連接口的磁場。這種磁場探頭的工作方式類似于電流鉗。 【廠家】 . 【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備 30MHz-6GHz近場探頭組 XF1 set 點擊詳情 使用XF 1系列的探頭,可以逐步辨識電子模塊中的干擾磁場源。例如,首先用XF-R 400-1型探頭檢測電子模塊總體發射出的干擾場,然后再用高分辨率探頭更準確地識別干擾源。電場探頭用于檢測電子模塊表面的干擾電場。 通過相應地操作近場探頭,能夠測量出電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便,并采用外皮電流衰減。磁場探頭采用電屏蔽設計。這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內部安裝有終端電阻。 【廠家】 . 【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備 1GHz-10GHz近場探頭組 SX1 set 點擊詳情 SX近場探頭組包含2個無源近場探頭,用于在研發階段以高時鐘頻率測量電子模塊上的電場和磁場,頻率范圍為1GHz到10GHz。SX探頭組的探頭可以緊貼電子模塊進行測量,比如貼近單個集成電路引腳、導線、元件及其連接點,從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭,能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便,并具備外皮電流衰減和電屏蔽。 這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內部有一個終端電阻。 【廠家】 . 【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備 17181920 合作品牌 熱線電話 021-51001982 關注我們 收起 郵件訂閱 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環境試驗裝置 提交 數據加載中,請稍后...