首頁 熱門產(chǎn)品 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環(huán)境試驗裝置 市場資訊 服務 技術資源 合作品牌 咨詢熱線: 021-51001982 搜索下列指定分類 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環(huán)境試驗裝置 首頁 測試與儀器 電磁兼容測試 EMI射頻發(fā)射測試設備 EMI射頻發(fā)射測試設備 9kHz~100MHz高阻容性電壓探頭 CVP 9222 C 點擊詳情 CVP 9222 C是一種符合標準CISPR 22、EN 55022 C 1.3要求的高阻容性電壓探頭。 【廠家】 . 【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - EMI射頻發(fā)射測試設備 150kHz~30MHz高阻容性電壓探頭 CVP 2200A 點擊詳情 CVP 2200A高阻容性電壓探頭 設計用于測量采用電容耦合原理的電纜上的不對稱干擾。 它提供了在不斷開被測電纜(“原位”)的情況下進行測量的機會,并且避免了傳輸?shù)挠绊憽7?CISPR 22 (EN 55022)、CISPR 32 (EN 55032) 和 CISPR 16-1-2標準。 【廠家】 . 【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - EMI射頻發(fā)射測試設備 (9kHz)150KHz~30MHz電壓探頭 TK 9422 點擊詳情 當LISN由于高電流或其他原因,很難或不可能進行傳導發(fā)射測量時,TK 9422是此種情況下的一種理想選擇。 【廠家】 . 【產(chǎn)品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - EMI射頻發(fā)射測試設備 891011 合作品牌 熱線電話 021-51001982 關注我們 收起 郵件訂閱 測試與儀器 射頻微波器件 激光器與光器件 環(huán)境試驗裝置 提交 數(shù)據(jù)加載中,請稍后...