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GGB DIFFERENTIAL CALIBRATION SUBSTRATE
差分校準基板
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GGB Industries, Inc. 的差分校準基板系列允許用戶在探頭尖端校準任何 GGB Industries, Inc. 的微波 Picoprobe?系列探頭。
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GGB Industries Inc
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測試與儀器
探針臺
探針
GGB DIFFERENTIAL CALIBRATION SUBSTRATE
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GGB Industries, Inc. 的差分校準基板系列允許用戶在探頭尖端校準任何 GGB Industries Inc. 的微波 Picoprobe?系列探頭。

測量系統校準的基本原理是提供測量系統可以連接的準確的已知標準,GGB Industries Inc. 的校準基板系列就是這樣的標準。

每個校準基板都包含高精度元件,用于校準微波網絡分析儀、其相關電纜和微波探頭中不可避免的誤差和損耗,以確保準確的晶圓上測試。

特征


  • 支持精確的 SOLTLRL LRM 校準
  • 包括 CalKit 軟件,可輕松加載到網絡分析儀
  • 間距范圍從 45 1325 微米
  • 適用于DC110 GHz的所有Picoprobes?
  • 適用于 GSGSGGSSG SGS 封裝
  • 負載標準單獨調整至0.25%精度
  • 25 mil 635 微米)厚氧化鋁基板


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