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1MHz-6GHz微型探頭組
MFA 01 set
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該探頭組的分辨率高，在磁場測量方面性能優異。它可以測量頻率范圍在6GHz以下的磁場。如信號線、SMD-元件（0603-0201）或集成電路板的引腳。該MFA微型探頭組可以手持操作。
在探頭頭部安裝有放大器。放大器(9 V, 100 mA) 由BT 706型偏置器供電，偏置器的阻抗為50歐姆。該微型探頭組通過BT 706型偏置器與一個頻譜分析儀或示波器相連。
Langer 電磁兼容科技有限公司的近場探頭提供配套的修正曲線。利用修正曲線可以將探頭輸出減壓換算為相應的磁場或電路中的電流。
廠家
.
主要技術參數：
? 頻率范圍：1 MHz ... 6 GHz
? 分辨率：200 μm
交付內容
MFA-R 0.2-6探頭的探測頭非常小，可用于測量模塊上譬如IC引腳、精細導體或者最小封裝的SMD器件（0603-0201）周圍的高頻磁場。
MFA-K 01-12探頭的探測頭非常小，其工作原理與電流鉗相同，可用于測量精細導體或IC引腳上的電流，能夠屏蔽從側面作用到探頭的場線。
MFA-R 0.2-75探頭使用其極小的探測頭直接測量模塊上譬如IC引腳、精細導體或者最小封裝的SMD器件（0603-0201）周圍的高頻磁場。
BT 706T型偏置器
該偏置器用于為前置放大器供電。前置放大器的供電端是其輸出端口，同時不影響放大器輸出端傳遞的測量信號。T偏置器通過前置放大器的射頻測量導線連接到頻譜分析儀或者示波器的輸入端口。偏置器的電源由一個電源適配器提供。
? 頻率范圍：1 MHz ... 6 GHz
? 分辨率：200 μm
交付內容
MFA-R 0.2-6探頭的探測頭非常小，可用于測量模塊上譬如IC引腳、精細導體或者最小封裝的SMD器件（0603-0201）周圍的高頻磁場。
MFA-K 01-12探頭的探測頭非常小，其工作原理與電流鉗相同，可用于測量精細導體或IC引腳上的電流，能夠屏蔽從側面作用到探頭的場線。
MFA-R 0.2-75探頭使用其極小的探測頭直接測量模塊上譬如IC引腳、精細導體或者最小封裝的SMD器件（0603-0201）周圍的高頻磁場。
BT 706T型偏置器
該偏置器用于為前置放大器供電。前置放大器的供電端是其輸出端口，同時不影響放大器輸出端傳遞的測量信號。T偏置器通過前置放大器的射頻測量導線連接到頻譜分析儀或者示波器的輸入端口。偏置器的電源由一個電源適配器提供。
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RF 1近場探頭組包含4個無源近場探頭，用于在研發階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭，可以實現緊貼電子模塊測量，比如貼近單個IC引腳、導線、元器件及其連接點測量，從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。
這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內部沒有安裝50Ω終端電阻。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
25KHz單通道光纖探頭
A100-1 set
A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進行給定的調制時會對模擬信號產生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
25KHz雙通道光纖探頭
A100-2
A100-2把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統特別適合于檢測模擬信號。
對電磁場進行給定的調制時會對模擬信號產生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統能夠快速識別到這些影響。
該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。
【廠家】 .
【產品分類】 測試與儀器 - 電磁兼容測試 - 近場掃描測量設備
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