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RF 1近場探頭組包含4個無源近場探頭，用于在研發階段測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭，可以實現緊貼電子模塊測量，比如貼近單個IC引腳、導線、元器件及其連接點測量，從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。 這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內部沒有安裝50Ω終端電阻。

A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統特別適合于檢測模擬信號。 對電磁場進行給定的調制時會對模擬信號產生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統能夠快速識別到這些影響。 該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。

A100-2把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時，該系統特別適合于檢測模擬信號。 對電磁場進行給定的調制時會對模擬信號產生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統能夠快速識別到這些影響。 該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學輸入端；光學輸入端再把光信號轉化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設備。